漏极注入HPM诱发的nMOSFET热电损伤机理 范菊平,游海龙,贾新章 西安电子科技大学微电子学院  全文: PDF   摘要： 关键词：  金属-氧化物-半导体场效应晶体管；高功率微波；热电损伤；熔丝 发表年限: 2013年 发表期号: 第5期